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Capteurs et métrologie

Code UE : USMC38

  • Cours
  • 3 crédits

Responsable(s)

Olivier DE SMET

Objectifs pédagogiques

Cette unité d’enseignement permet de maîtriser l’architecture des systèmes instrumentés et de capteurs

Compétences visées

Etre capable de connaître, de comprendre d’analyser, d’appliquer et  mettre  en  œuvre l’électronique  d’une chaîne d’instrumentation et des capteurs

Contenu

Capteurs
* Physique et technologie des capteurs.
* Métrologie, signal et conditionnement du signal.
* Caractéristiques métrologiques des capteurs (grandeurs d’influence, erreurs sur la mesure, étalonnage du capteur, limites  d’utilisation,  sensibilité,  rapidité, temps de réponse...).
* Les différents principes physiques utilisés pour la conception des capteurs.
* Capteurs passifs et capteurs actifs. Conditionnement du signal pour les capteurs passif et actifs.
* Applications :
** Position/déplacement, vitesse, accélération
** Température
** Effort, pression, puissance, énergie
** vibration…
Métrologie
* Définition de termes
** fidélité, justesse, précision
** sensibilité, finesse, hystérésis
** résolution, calibre, répétabilité
* Calcul d'erreurs
* Cause des erreurs
** Grandeurs d'influence
** Précision des instruments
* Unités légales
* Etalonnage
** Laboratoires accrédités
** Assurance qualité

Modalité d'évaluation

  • Examen final

Cette UE apparaît dans les diplômes et certificats suivants

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Contact

Secrétariat EPN04
EPN4 2 rue Conté
75003 Paris
Tel :01 58 80 84 37
Habsatou DIA

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